電子設(shè)備往往都是由若干個(gè)電子元器件構(gòu)成，而在設(shè)備的電路設(shè)計(jì)中，通過電子元器件的可靠串聯(lián)模型，才能夠?qū)崿F(xiàn)電子設(shè)備和系統(tǒng)功能的正常運(yùn)行。對(duì)于大部分電子元器件的生產(chǎn)來說，其使用可靠性是基礎(chǔ)和核心，任何一個(gè)小的電子元器件的功能喪失，都會(huì)導(dǎo)致整個(gè)系統(tǒng)功能的喪失。因此，為了保證系統(tǒng)功能的有效發(fā)揮，必須要加強(qiáng)設(shè)計(jì)人員對(duì)電子元器件使用可靠性的認(rèn)識(shí)，并且進(jìn)行科學(xué)、合理的選擇與使用，才能夠保證電子元器件使用可靠性的不斷提升，以此促進(jìn)整機(jī)的穩(wěn)定運(yùn)行。
1、 缺乏科學(xué)的設(shè)計(jì)
通過對(duì)以往電子元器件產(chǎn)品的系統(tǒng)分析可以看出，電子元器件的失效，除了其本身的質(zhì)量問題，有很大一部分原因是由于電子元器件的設(shè)計(jì)不合理所導(dǎo)致的。比如某雷達(dá)產(chǎn)品，其在使用的過程中存在著晶振振蕩不穩(wěn)定的現(xiàn)象，通常會(huì)認(rèn)為是由于集成電路所引起的，在更換集成電路之后現(xiàn)象仍然存在，通過進(jìn)一步的分析發(fā)現(xiàn)，是電路設(shè)計(jì)不合理所引起的，因此對(duì)電力設(shè)計(jì)進(jìn)行了更改，故障便徹底消除。
2、 人為因素的干擾
根據(jù)相關(guān)的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)，在導(dǎo)致電子元器件失效的各種原因中，人為因素占據(jù)著很大的比例，在產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用的過程中，庫(kù)存、搬運(yùn)、安裝調(diào)試、試驗(yàn)等環(huán)節(jié)都可能會(huì)由于人的因素而導(dǎo)致電子元器件的失效。比如在電子元器件的裝配過程中，將單元板進(jìn)行組成之后，對(duì)整個(gè)系統(tǒng)進(jìn)行運(yùn)行調(diào)整，這時(shí)整機(jī)功能正常，但是將電子元器件與電路印制板進(jìn)行焊接并且裝機(jī)之后，設(shè)備卻無法正常運(yùn)轉(zhuǎn)，通過專家分析，是由于焊接過程中，沒有使電烙鐵達(dá)到理想的接地狀態(tài)，不滿足電路焊接標(biāo)準(zhǔn)要求，而導(dǎo)致設(shè)備整機(jī)無法運(yùn)行。
3 、因他電應(yīng)力
近年來，由于其他電應(yīng)力而引起的電子元器件失效比例逐年的提升，其中較為典型的因素有接地不良、反沖電動(dòng)勢(shì)、二次擊穿、靜電等等。如很多單位的供電系統(tǒng)都是接“0”保護(hù)，即“零”線與“地”線接在一起，這是符合供電系統(tǒng)的使用標(biāo)準(zhǔn)的。然而，對(duì)于微電子器件、CMOS器件，在其電路設(shè)計(jì)、調(diào)試和生產(chǎn)過程中，則必須采用接“地”保護(hù)，即“零”線與“地”線必須要嚴(yán)格分開。由于這些問題沒有受到充分的重視，而導(dǎo)致了電子元器件的失效。
